Marvin Test Solutions, Inc.

United States
Cage Code: 056D8
Typencode: A
Seite: 1 of 3
Artikel
Nationale Bestandsnummer
Artikelbeschreibung
Teilenummer:
GT50-256K Speicher-Mikroschaltung
NSN:
5962-01-482-4899
Speicher-Mikroschaltung
Teilenummer:
GT25-DIO-M Leiterplatten-Bestückung
NSN:
5998-01-492-9336
Leiterplatten-Bestückung
Teilenummer:
GT50-DIO-M Leiterplatten-Bestückung
NSN:
5998-01-493-9510
Leiterplatten-Bestückung
Teilenummer:
GT7022 Kartenhalter
NSN:
5998-01-493-9511
Elektrischer Kartenhalter
Teilenummer:
GT7404 Leiterplatten-Bestückung
NSN:
5998-01-493-9512
Leiterplatten-Bestückung
Teilenummer:
GT6064-I Leiterplatten-Bestückung
NSN:
5998-01-493-9513
Leiterplatten-Bestückung
Teilenummer:
SM2020-CT Multimeter
NSN:
6625-01-493-9514
Multimeter
Teilenummer:
GP1552WR Impulsgeber
NSN:
6625-01-494-1049
Impulsgeber
Teilenummer:
MT1888 Laser-Detektionssimulator
NSN:
5860-01-495-7441
Laser-Detektionssimulator
Teilenummer:
MT1888-1 Laser-Detektionssimulator
NSN:
5860-01-495-7442
Laser-Detektionssimulator
Teilenummer:
3050-000 Lenkflugkörper-Testset
NSN:
4935-01-500-9490
Lenkflugkörper-Testset
Teilenummer:
492000 Mikroschaltungen
NSN:
5962-01-508-9890
Bestückung von Mikroschaltungen
Teilenummer:
3050-3059 Netzteil-Adapter
NSN:
6130-01-517-7792
Netzteil-Adapter
Teilenummer:
4965-0108 Dämpfungspolster
NSN:
5340-01-538-4841
Dämpfungspolster
Teilenummer:
4965-0109 Feuchtigkeitsschutzhülle
NSN:
5340-01-539-1399
Staub- und Feuchtigkeitsschutzhülle
Teilenummer:
3050-0501 Kit
NSN:
4935-01-542-6305
Geführtes Mi Tough Kit
Teilenummer:
3050-502 Kit
NSN:
4935-01-542-6306
Geführtes Mi Tough Kit
Teilenummer:
3050-0503 Testkit
NSN:
4935-01-543-2476
Geführtes Mis Ergänzendes Testkit
Teilenummer:
3050-0504 Modifikationssatz
NSN:
4935-01-543-6863
Wartungs- und Modifikationssatz
Teilenummer:
4965-0112 Leiterplatten-Bestückung
NSN:
5998-01-545-6616
Leiterplatten-Bestückung
Teilenummer:
4965-0100 Last-Dummy-Abdeckung
NSN:
5985-01-546-0384
Elektrische Last-Dummy-Abdeckung
Teilenummer:
GP1665WR TE-Funktionsgenerator
NSN:
6625-01-550-0545
Elektronischer TE-Funktionsgenerator
Teilenummer:
TS-217 Lenkflugkörpersysteme
NSN:
4935-01-551-5123
Teststation für Lenkflugkörpersysteme
Teilenummer:
GP1650W Signalgenerator
NSN:
6625-01-553-7234
Signalgenerator
Teilenummer:
3080-0000 Lenkflugkörper-Testset
NSN:
4935-01-563-7787
Lenkflugkörper-Testset
Teilenummer:
GX7910-XP PXI 6U Computer-Unterbaugruppe
NSN:
7021-01-564-6795
Computer-Unterbaugruppe
Teilenummer:
41001000B Leiterplatten-Bestückung
NSN:
5998-01-565-2735
Leiterplatten-Bestückung
Teilenummer:
MTS-207-1 Datensysteme
NSN:
4920-01-565-8320
Testsatz für Datensysteme
Teilenummer:
GC5050 Leiterplatten-Bestückung
NSN:
5998-01-573-0307
Leiterplatten-Bestückung
Teilenummer:
GX5641 Leiterplatten-Bestückung
NSN:
5998-01-594-3287
Leiterplatten-Bestückung
Teilenummer:
MXI4-CBL-C-3M Kabelkonfektionierung
NSN:
5995-01-602-8522
Kabelkonfektionierung
Teilenummer:
MTS-3060 Test-Set
NSN:
4920-01-603-7105
Filialen Management Syste Test-Set
Teilenummer:
3100-000-00 Subsy-Testsatz
NSN:
4920-01-604-5094
Filialverwaltung Subsy-Testsatz
Teilenummer:
GX6325 Leiterplatten-Bestückung
NSN:
5998-01-606-3705
Leiterplatten-Bestückung
Teilenummer:
GX5731 Leiterplatten-Bestückung
NSN:
5998-01-606-3734
Leiterplatten-Bestückung

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