Huntron Inc

Kategorie: Electrical and Electronic Properties Measuring and Testing Instruments United States
Cage Code: 57705
Typencode: A
Seite: 1 of 1
Artikel
Nationale Bestandsnummer
Artikelbeschreibung
Teilenummer:
HTR 1005B Halbleiterbauelemente
NSN:
6625-01-085-8037
Prüfgerät für Halbleiterbauelemente
Teilenummer:
TRACKER 1000 Halbleiterbauelemente
NSN:
6625-01-115-0395
Prüfgerät für Halbleiterbauelemente
Teilenummer:
MP10-1999 Mikrosonden-Set
NSN:
6625-01-116-1323
Mikrosonden-Set
Teilenummer:
HSR-210 Testadapter
NSN:
6625-01-164-2224
Testadapter
Teilenummer:
10-1099 Messleitungs-Set
NSN:
6625-01-172-7860
Messleitungs-Set
Teilenummer:
HTR1005B-1ES Halbleiterbauelemente
NSN:
6625-01-216-3258
Prüfgerät für Halbleiterbauelemente
Teilenummer:
HUNTRON TRACKER 2000 Schaltungs-Comp-Test-Set
NSN:
6625-01-217-7608
Elektronisches Schaltungs-Comp-Test-Set
Teilenummer:
2000 Halbleiterbauelemente
NSN:
6625-01-239-4638
Prüfgerät für Halbleiterbauelemente
Teilenummer:
01-2117 Test-Set-Fall
NSN:
6625-01-248-4911
Test-Set-Fall
Teilenummer:
01-2129 Test-Set-Fall
NSN:
6625-01-248-4912
Test-Set-Fall
Teilenummer:
01-2127 Prüfabdeckung
NSN:
6625-01-248-4918
Elektrisch-elektronische Prüfabdeckung
Teilenummer:
HSR410 Rangierlokomotive
NSN:
6625-01-257-7235
Rangierlokomotive
Teilenummer:
TRACKER2000A Halbleiter-Tester
NSN:
6625-01-258-2893
Halbleiter-Tester
Teilenummer:
TRACKER2000-HSR410 Halbleiterbauelemente
NSN:
6625-01-274-4662
Prüfgerät für Halbleiterbauelemente
Teilenummer:
TRACKER 2000 Schaltungs-Comp-Test-Set
NSN:
6625-01-287-3379
Elektronisches Schaltungs-Comp-Test-Set
Teilenummer:
01-2010 Overlay
NSN:
6625-01-290-0195
6- und 8-poliges Overlay
Teilenummer:
01-2012 Overlay
NSN:
6625-01-290-0196
24- und 28-poliges Overlay
Teilenummer:
01-2011 Overlay
NSN:
6625-01-292-1601
14- und 16-poliges Overlay
Teilenummer:
10-1088 Messleitung
NSN:
6625-01-295-0643
Messleitung
Teilenummer:
01-1104S Heckverlängerung
NSN:
6625-01-295-3456
Heckverlängerung
Teilenummer:
1000-3028-B Locator-Fehler
NSN:
6625-01-303-6545
Locator-Fehler
Teilenummer:
HTR1000 Halbleiterbauelemente
NSN:
6625-01-316-6512
Prüfgerät für Halbleiterbauelemente
Teilenummer:
5100DS/99-0315 Halbleiterbauelemente
NSN:
6625-01-325-3672
Prüfgerät für Halbleiterbauelemente
Teilenummer:
100-3015-B Messleitung
NSN:
6625-01-340-4263
Messleitung
Teilenummer:
98-0043 Messleitung
NSN:
6625-01-342-0752
Messleitung
Teilenummer:
06-3041 Prüfgeräte-Unterbaugruppe
NSN:
6625-01-342-0800
Elektrische Prüfgeräte-Unterbaugruppe
Teilenummer:
06-1058 Prüfgeräte-Unterbaugruppe
NSN:
6625-01-342-3476
Elektrische Prüfgeräte-Unterbaugruppe
Teilenummer:
06-3043 Prüfgeräte-Unterbaugruppe
NSN:
6625-01-342-4107
Elektrische Prüfgeräte-Unterbaugruppe
Teilenummer:
06-2049 Prüfgeräte-Unterbaugruppe
NSN:
6625-01-342-4108
Elektrische Prüfgeräte-Unterbaugruppe
Teilenummer:
98-0036 Messleitung
NSN:
6625-01-342-5050
Messleitung
Teilenummer:
5100DS Halbleiterbauelemente
NSN:
6625-01-348-9634
Prüfgerät für Halbleiterbauelemente
Teilenummer:
99-0300 Komponenten-Tester
NSN:
6625-01-357-3236
Komponenten-Tester
Teilenummer:
5100DS/99-0314 Halbleiterbauelemente
NSN:
6625-01-358-3159
Prüfgerät für Halbleiterbauelemente
Teilenummer:
DSI-700 Schaltungsstecker-Testset
NSN:
6625-01-377-8036
Elektronisches Schaltungsstecker-Testset
Teilenummer:
RP388 Schaltungsstecker-Testset
NSN:
6625-01-378-8012
Elektronisches Schaltungsstecker-Testset

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