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Käfigcode-Suche
Käfig k1446 Page 4
A P T Radar Systems Ltd
United Kingdom
Cage Code:
K1446
Typencode: E
Seite: 4 of 6
Artikel
Nationale Bestandsnummer
Artikelbeschreibung
Teilenummer:
400154-002
Test-Set-Fall
NSN:
4920-01-534-4169
Test-Set-Fall
Teilenummer:
900294-001
Kit-Kabels
NSN:
4920-01-534-4170
Markierung des Kit-Kabels
Teilenummer:
900095-002
Plat
NSN:
4920-01-534-4171
Case Alignment Plat
Teilenummer:
20UKR200-001
Test-Set-Fall
NSN:
4920-01-534-4172
Test-Set-Fall
Teilenummer:
900096-002
Plat
NSN:
4920-01-534-4173
Case Alignment Plat
Teilenummer:
900330-001
Interface-Testvorrichtungs-Baugruppe
NSN:
4920-01-534-4174
Interface-Testvorrichtungs-Baugruppe
Teilenummer:
900102-001
Multiplexer-Unterbaugruppe
NSN:
5895-01-534-4175
Multiplexer-Unterbaugruppe
Teilenummer:
900292-001
Interface-Testvorrichtungs-Baugruppe
NSN:
4920-01-534-4177
Interface-Testvorrichtungs-Baugruppe
Teilenummer:
900292-002
Interface-Testvorrichtungs-Baugruppe
NSN:
4920-01-534-4178
Interface-Testvorrichtungs-Baugruppe
Teilenummer:
900190-002
Interface-Testvorrichtungs-Baugruppe
NSN:
4920-01-534-4179
Interface-Testvorrichtungs-Baugruppe
Teilenummer:
250067-001
Hochfrequenz-Kabelkonfektionierung
NSN:
5995-01-534-4180
Hochfrequenz-Kabelkonfektionierung
Teilenummer:
250068-001
Hochfrequenz-Kabelkonfektionierung
NSN:
5995-01-534-4181
Hochfrequenz-Kabelkonfektionierung
Teilenummer:
250069-001
Hochfrequenz-Kabelkonfektionierung
NSN:
5995-01-534-4182
Hochfrequenz-Kabelkonfektionierung
Teilenummer:
900336-001
Hochfrequenz-Kabelkonfektionierung
NSN:
5995-01-534-4183
Hochfrequenz-Kabelkonfektionierung
Teilenummer:
700014-003
Systeme
NSN:
4920-01-534-4422
Prüfstand für elektronische Systeme
Teilenummer:
203010352-21
Hochfrequenz-Kabelkonfektionierung
NSN:
5995-01-535-3534
Hochfrequenz-Kabelkonfektionierung
Teilenummer:
W0456680783-03
Spannungsregler-Testset
NSN:
6625-01-535-4893
Spannungsregler-Testset
Teilenummer:
W0456680783-01
Spannungsregler-Testset
NSN:
6625-01-535-4894
Spannungsregler-Testset
Teilenummer:
700014-001
Systeme
NSN:
6625-01-536-7862
Prüfstand für elektronische Systeme
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