Teilenummer 120

Semiconductor Device Test Set

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Teilenummer

Entmilitarisierung

Lagerfähigkeit

UOM

NIIN

Teilenummer:

120

Entmilitarisierung:

Lagerfähigkeit:

N/A

Maßeinheit:

1 EA

NIIN:

003679323

NSN

Nationale Bestandsnummer:

6625-00-367-9323 6625003679323

TXT

Beschreibung:

Semiconductor Device Test Set

INC

Artikelname-Code:

25006

MRC:

An indication of the feature/s/ of the inclosure.ANPZ

Inclosure Feature:

Single item w/housing

MRC:

Indicates the type of test for which the item is designed.AQXY

Test Type For Which Designed:

Measurement of transistors

MRC:

The alpha-numeric designation that identifies the classification of the item according to the category of functions performed.FCLS

Functional Classification:

Aa-9.3

MRC:

Characteristics or qualities of an item,not covered in any other requirement,which are considered essential information for one or more functions excluding nsn assignment.SUPP

Supplementary Features:

Manufacturers name: transistor test set

Code	Definition
FN	Fabrikneu. Die Teile wurden von den damaligen OEMs hergestellt und verfügen über eine Herstellerzertifizierung.
NE	Neu. Teile, die vom OEM hergestellt werden. Kann eine Herstellerzertifizierung oder eine Unternehmenszertifizierung enthalten.
NS	Neuer Überschuss. Neuer Materialartikel, der aus überschüssigem Bestand gekauft wurde.
OH	Überholt. Das Produkt wurde von einer Reparaturwerkstatt (MRO) gemäß den Spezifikationen des Herstellers umgebaut und getestet.
SV	Servicefähiges Produkt
AR	Wie entfernt. Das Produkt wurde aus dem Flugzeug oder der Plattform entfernt, ohne dass eine Garantie für die Funktionalität des Teils besteht.
RP	Reparierbar. Das Produkt kann von einem MRO repariert und nach FAA 8130 oder EASA Form 1 zertifiziert werden.

Teilenummer 120

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