Teilenummer 30C3819

Semiconductor Device Test Set

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Teilenummer
Entmilitarisierung
Lagerfähigkeit
UOM
NIIN
Teilenummer:
30c3819
Entmilitarisierung:
No
Lagerfähigkeit:
Maßeinheit:
NIIN:
011338544
NSN
Nationale Bestandsnummer:
6625-01-133-8544 6625011338544
TXT
Beschreibung:
Semiconductor Device Test Set
INC
INC
Artikelname-Code:
25006

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