Teilenummer 5-627

Electronic Circuit-comp Test Set
Beschreibung

Signal tracker

Preise und Verfügbarkeit

Reichen Sie dieses Formular ein, um die aktuellen Preise und die Verfügbarkeit dieser NSN zu erfahren.
Teilenummer:
Menge:
E-Mail-Adresse:
Telefon:
Referenz:
Firma:
Name:

Wir geben Ihre Daten nicht an Dritte weiter und verkaufen sie auch nicht.
Privatsphäre | Bedingungen

All major credit cards accepted as well as gov. p-cards

Historische Preise für dieses Produkt liegen zwischen 5469.243 and 7152.087 USD. Abhängig von Menge, Verfügbarkeit, Zustand, Lieferzeit und möglicher Einstellung eines Artikels können wir die Preise erst garantieren, wenn wir Ihnen ein aktuelles Angebot unterbreiten.

Teilenummer
Entmilitarisierung
Lagerfähigkeit
UOM
NIIN
Teilenummer:
5-627
Entmilitarisierung:
No
Lagerfähigkeit:
N/A
Maßeinheit:
1 EA
NIIN:
012177608

Informationen zum Teil
Test set electronic circuit-component: 105-130v 50/60hz

NSN
Nationale Bestandsnummer:
6625-01-217-7608 6625012177608
TXT
Beschreibung:
Electronic Circuit-comp Test Set
INC
INC
Artikelname-Code:
77777
MRC:
Those unusual or unique characteristics or qualities of an item not covered in the other requirements and which are determined to be essential for identification.FEAT
Special Features:
Has 3 selectable impedance ranges and output frequency ranges; operates on 120/230 vac, 50/60 hz, singles phase; comes w/protection cover or carrying case; designed to test unpowered circuits and devices in maintenance of medical equipment; has pulse generation capabilities w/a selectable range from 60 hz to 2 khz; output amplitude at least 0 to 5 volts peak, current up to 50 ma and impedance of 100 ohms; unit selector switc (s) /terminals describe function, range and/or test; provisioned as follows: dpsc-a special equipment commercial service manual; dpsc-b special equipment commercial operating/instruction manual; di-ilss-80867 special equipment consumable/durable support item list
MRC:
A recording of the physical,functional,and performance characteristics for an item of supply.TEXT
General Description:
For testing capacitors for shorts, opens, and leakage from 0.001 to 25 micro farads. Tests resistance circuits for shorts and/or opens. Tests semiconductor devices for leakage, shorts and open bonding, to include zenor diodes, bipolar transistors, triacs, and opteoelectronic devices. Tests integrated circuits for component failure.

Ähnlich Electronic Circuit-comp Test Sets

« Electrical and Electronic Properties Measuring and Testing Instruments {lang[catalog]}
Jetzt vergleichen»
Klar | Verstecken