Teilenummer F178703ITEM30

Semiconductor Device Test Set

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Teilenummer
Entmilitarisierung
Lagerfähigkeit
UOM
NIIN
Teilenummer:
f178703item30
Entmilitarisierung:
Lagerfähigkeit:
N/A
Maßeinheit:
0 EA
NIIN:
016445784
NSN
Nationale Bestandsnummer:
6625-01-644-5784 6625016445784
TXT
Beschreibung:
Semiconductor Device Test Set
INC
INC
Artikelname-Code:
25006

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